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掲載タイトル
正確な膜厚計測を非接触で:革新的な画像解析技術
発明の名称
画像による塗膜厚計測方法、塗膜厚計測プログラム、及び塗膜厚計測システム
登録番号
権利者
国立研究開発法人 海上・港湾・航空技術研究所

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