GaN基板の製造方法
国立大学法人山口大学
山口県山口市吉田1677−1
この技術でできること
ベース基板を高温窒化処理し、HVPE法で高結晶品質のGaNを成長。次世代パワーデバイスや光デバイスの性能向上に貢献します。
技術の特徴
本特許は、HVPE(ハイドライド気相成長法)を用いて高品質なGaN基板を製造する新しい方法に関するものです。従来、非半導体基板上にGaNを成長させる際、界面の結晶性が低いため、欠陥密度が高く性能に影響を与えるという課題がありました。本発明では、まずベース基板の非半導体表面を1000℃を超える高温下で窒化処理します。この際、N₂ガスおよびNH₃ガスを用いることで、基板表面に窒化層を形成。その後、N₂をキャリアガスとするHVPE法により、基板上にGaNを結晶成長させます。この工程により、非半導体基板から直接、結晶品質の高いGaNを成長させることが可能となり、従来よりも欠陥密度を低減した高性能基板が得られます。本技術は、パワーエレクトロニクスや高効率LED、レーザーダイオードなどのデバイス開発において重要な基盤技術であり、低コスト化と高信頼性の両立を実現するものです。
関連キーワード
AIによる特許活用案
次世代パワー半導体基板
高耐圧・高効率が求められるGaNパワーデバイス用基板として活用する。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2021-028851
- 発明の名称
- GaN基板の製造方法
- 出願人/権利者
- 国立大学法人山口大学
- 住所
- 山口県山口市吉田1677−1
- 公開番号
- 特開2022-129954
- 登録番号
- 特許第7704395号