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GaN基板の製造方法

国立大学法人山口大学

山口県山口市吉田1677−1

この技術でできること

ベース基板を高温窒化処理し、HVPE法で高結晶品質のGaNを成長。次世代パワーデバイスや光デバイスの性能向上に貢献します。

技術の特徴

本特許は、HVPE(ハイドライド気相成長法)を用いて高品質なGaN基板を製造する新しい方法に関するものです。従来、非半導体基板上にGaNを成長させる際、界面の結晶性が低いため、欠陥密度が高く性能に影響を与えるという課題がありました。本発明では、まずベース基板の非半導体表面を1000℃を超える高温下で窒化処理します。この際、N₂ガスおよびNH₃ガスを用いることで、基板表面に窒化層を形成。その後、N₂をキャリアガスとするHVPE法により、基板上にGaNを結晶成長させます。この工程により、非半導体基板から直接、結晶品質の高いGaNを成長させることが可能となり、従来よりも欠陥密度を低減した高性能基板が得られます。本技術は、パワーエレクトロニクスや高効率LED、レーザーダイオードなどのデバイス開発において重要な基盤技術であり、低コスト化と高信頼性の両立を実現するものです。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2021-028851
発明の名称
GaN基板の製造方法
出願人/権利者
国立大学法人山口大学
住所
山口県山口市吉田1677−1
公開番号
特開2022-129954
登録番号
特許第7704395号
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