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校正用パターン光投射装置

日本放送協会

校正用パターン光投射装置
掲載画像・日本放送協会

この技術でできること

“サイズが変わらない点”を探せ。

技術の特徴

本特許は、レンズの歪曲収差を高精度かつ簡便に測定するための光学測定技術に関するものである(1頁要約参照)。本発明では、パターン光発生部から校正用パターン光をハーフミラーに投射し、それを任意の物体に反射させる構成を採用する。その反射光は再びハーフミラーを透過して測定対象レンズを通り、撮像面に結像する。特徴的なのは、パターン光発生部とハーフミラーの距離を可動部で調整できる点であり、撮影距離を変えても結像パターンの大きさが変化しない状態を探すことで、適切な校正状態を得ることができる。図に示されるように、光路を折り返す構成と可動調整機構を組み合わせた設計となっている。これにより、従来よりも手間を減らしつつ高精度な歪曲収差測定が可能となる。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号
特願2021-064624
発明の名称
校正用パターン光投射装置
出願人/権利者
日本放送協会
公開番号
特開2022-160094
登録番号
特許第7618487号
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