革新的な非破壊検査技術：テラヘルツ磁気光学センサ

国立研究開発法人物質・材料研究機構

茨城県つくば市千現１－２－１

この技術でできること

小型で高性能なテラヘルツ磁気光学センサを活用した非破壊検査装置と方法。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、テラヘルツ磁気光学センサを用いた非破壊検査装置とその使用方法に関するものです。この高性能なセンサは、磁場を生成し、特定の層（基板層、スピントロニクス層、反射鏡層、電気光学結晶層）を通過するテラヘルツ光を操作することで、被測定試料の磁束漏洩を検出します。各層は特定の材料から選択され、それぞれが独自の役割を果たします。例えば、スピントロニクス層はポンプパルスをテラヘルツ光に変換し、電気光学結晶層はテラヘルツ光とプローブパルスとを相互作用させます。これにより、非破壊で、精密かつ高速な検査が可能となります。

AIによる特許活用案

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高精度な製品検査装置の開発

本特許の技術を活用して、製造過程での欠陥や不具合を発見するための高精度な製品検査装置を開発することが可能です。製造業における品質管理を効率化し、コストを削減することができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-188010
発明の名称: テラヘルツ磁気光学センサ、これを用いた高性能非破壊検査装置及び方法、並びにこれに用いる磁気光学撮像センサ
出願人／権利者: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
住所: 茨城県つくば市千現１－２－１
公開番号: 特開2021-063704
登録番号: 特許第7297306号

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