高精度測定の新たなスタンダード、微分干渉計の特許技術

学校法人東京電機大学

この技術でできること

レーザー光を用いた微分干渉計技術により、物体の位置、姿勢、距離などを高精度に測定可能

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、干渉信号の密度が一定であり、被測定物の凹凸の解釈上の問題が解決可能な微分干渉計に関するものです。特にレーザー光を用いた微分干渉計に適した技術として開発されました。対物レンズの半径方向に沿ってシアする手法により、平面形状の計測、微生物等の観察が可能です。また、一対のアキシコンレンズのいずれか一方を中心軸に沿った方向に平行移動することで、突出端と凹端との間の隙間の大きさを調整することが可能です。光源がコヒーレンされる微分干渉計も含まれます。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 精密機器製造業バイオテクノロジーナノテクノロジー

高精度な距離測定装置の開発

本特許技術を活用して、物体までの距離を非常に高精度に測定する装置を開発することが可能です。これにより、製造業や建設業などでの精密な測定作業を効率化し、作業精度を向上させることが期待できます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-114223
発明の名称: 微分干渉計
出願人／権利者: 学校法人東京電機大学
公開番号: 特開2021-001739
登録番号: 特許第7282367号

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