革新的な光学測定装置：次世代デジタルホログラフィック顕微鏡

国立大学法人電気通信大学

東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１

この技術でできること

本発明は、物体波と参照波の光干渉を利用した光学測定装置に関する。

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、物体波と参照波による光干渉を利用することで、物体の形状、変形、応力分布、歪み、蛍光または偏光等を非侵襲・非接触・非染色で計測する光学測定装置に関する。これはデジタルホログラフィック顕微鏡（DHM)の一種で、微小物体の厚みや屈折率の情報である定量位相情報の計測が可能である。物体波の強度分布と位相分布の情報を表す複素振幅分布を再生することが可能である。本発明は装置の小型化を可能にし、情報通信、セキュリティ、3次元変位・変形センシング、流体の計測、医療分野における定量的細胞検査等、様々な分野への応用が見込まれている。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 情報通信セキュリティ医療

高速・高解像の画像計測

本発明を用いれば、高速・高解像の画像を得るために計測する視野が広いほど再構成の計算負荷が大きくなるデジタルホログラフィにおいて、高精細な位相分布の測定だけではなく高速な位相再構成が可能になる。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2020-147071
発明の名称: 光学測定装置
出願人／権利者: 国立大学法人電気通信大学
住所: 東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１
公開番号: 特開2020-204775
登録番号: 特許第6948084号

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