革新的な断層撮影装置：3次元物質密度分布可視化可能

国立大学法人千葉大学

千葉県千葉市稲毛区弥生町１－３３

この技術でできること

角度やエネルギーに基づく精密な散乱位置の特定を可能にする、反射型断層撮影装置

相談したいこと

技術の特徴

この特許は、既存の断層撮影装置を進化させ、より精密な情報を提供する反射型断層撮影装置を提供します。この装置は、一次元のγ線を照射し、散乱角度やエネルギーに基づいて散乱γ線に関する情報を測定する能力を持っています。装置は、γ線源と測定対象物の間に配置され、測定対象物の3次元物質密度分布を正確に測定することが可能です。これにより、埋設物の探索や透視検査、さらには乳がん診断などの診断装置にも利用可能です。これらのアプリケーションは、鋭角な散乱角度と高エネルギーの光子による精密な散乱位置の特定を必要とします。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 医療業界工業検査業界建設業界

乳がん診断の改善

従来のマンモグラフィーに代わり、痛みを伴わずに乳房の3次元的な物質密度分布を測定できるため、より精密な乳がん診断が可能になります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-082455
発明の名称: 反射型断層撮影装置
出願人／権利者: 国立大学法人千葉大学
住所: 千葉県千葉市稲毛区弥生町１－３３
公開番号: 特開2020-180816
登録番号: 特許第6779535号

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