光学特性を正確に測定！分光測定装置の新時代

国立研究開発法人物質・材料研究機構

茨城県つくば市千現１－２－１

この技術でできること

被験物質の各種光学特性を精密に算出する分光測定装置

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、被験物質の光学特性を正確に測定するための分光測定装置に関するものです。この装置は、標準物質と被験物質の波長スペクトルからフォトン数を算出し、その値を用いて各種光学特性を計算します。特に、外部量子効率、吸収率、反射率、内部量子効率などの光学特性を算出することが可能です。各光学特性の算出は、標準物質の光学特性との組み合わせにより、異なる計算式で行われます。これにより、被験物質の光学特性をより正確に、そして柔軟に測定することができます。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 光学産業材料科学半導体産業

光学材料の開発・評価

新規光学材料の開発や既存材料の評価にこの分光測定装置を活用することで、材料の光学特性を正確に把握することが可能になります。これにより、材料開発の効率化や品質向上に寄与します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-059573
発明の名称: 分光測定装置、および、分光測定プログラム
出願人／権利者: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
住所: 茨城県つくば市千現１－２－１
公開番号: 特開2020-159867
登録番号: 特許第7195540号

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