物性探索の新たな地平線：物性パラメータ関係性グラフを活用した探索システム

国立研究開発法人物質・材料研究機構

茨城県つくば市千現１－２－１

この技術でできること

高度な物性パラメータの相関性を分析し、科学研究や産業応用に活用可能な探索システム

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、物性パラメータの関係性をグラフとして表現し、このグラフを用いて物性パラメータの探索を行うシステムに関するものです。複数のパラメータ対、測定法、測定原理を基にした物性パラメータ等を含む物性測定法データベースとグラフ拡張部を備え、これらを用いてグラフを拡張し、深層的な探索を可能にします。ユーザーインターフェースは、探索結果を視覚的に表示し、ユーザーが理解しやすい形で情報を提供します。また、ユーザーごとのデータベースを設け、個々のユーザーが実行する測定法やその結果に関する情報を記憶し、個別のニーズに対応することができます。

AIによる特許活用案

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高度な物性分析ツールとしての活用

本特許のシステムは、多数の物性パラメータを包括的に分析するためのツールとして活用可能です。具体的には、新たな材料や化合物の開発において、その物性を詳しく解析し、理想的な材料特性を見つけ出すための探索作業をサポートします。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2019-026191
発明の名称: 探索システムおよび探索方法
出願人／権利者: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
住所: 茨城県つくば市千現１－２－１
公開番号: 特開2020-135256
登録番号: 特許第7186436号

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