高精度な欠陥検査装置とその手法

株式会社デンケン、独立行政法人国立高等専門学校機構

大分県大分市大字牧１６６６番地

この技術でできること

予め規定された欠陥と機械学習モデルに基づいて被検査物の欠陥の有無を判定する装置と方法

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、被検査対象物を撮像し、その撮像データを処理することで画像データを生成します。その処理画像データと予め規定された多種の欠陥データ、また機械学習モデルに基づいて、被検査対象物の欠陥の有無を高精度に判定します。第1及び第2の判定部が連携し、特定の欠陥があると判断した場合には、その特定の欠陥の有無を再度判定します。これにより、良品を不良品と誤判定するリスクが低減します。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業自動車産業半導体業界

品質管理の強化

製造業における品質管理は、製品の信頼性やブランドイメージに直接影響します。本特許技術を活用して、製造ラインにおける欠陥検査の精度を向上させ、良品と不良品の誤判定を最小限に抑えることが可能です。

続きの活用案は会員限定です

無料登録またはログイン後に、公開範囲に応じて確認できます。

参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2019-003969
発明の名称: 検査装置及び検査方法
出願人／権利者: 株式会社デンケン、独立行政法人国立高等専門学校機構
住所: 大分県大分市大字牧１６６６番地
公開番号: 特開2020-112456
登録番号: 特許第6630912号

登録情報の修正申請