デュアルコム分光法による革新的な光パルス測定

国立大学法人電気通信大学

東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１

この技術でできること

繰り返し周波数の異なる光周波数コムを用いたデュアルコム分光法による光パルスの時間軸上の位置の測定及び物性情報の取得法を提供します。

相談したいこと

技術の特徴

この特許は、デュアルコム分光法を用いた光パルスの時間軸上の位置の測定方法に関するもので、干渉信号の測定と物性情報の取得を可能にします。特に、2つの光周波数コムのうち1つを固体試料を通過する信号光パルスとし、もう1つを信号光パルスと干渉させるローカル光パルスとすることで、固体試料の物性情報を位相スペクトルとして取得することが可能です。これにより、位相補正とコヒーレント積算をリアルタイムで行うことができ、フーリエ解析を用いて物性情報が得られます。これは、デュアルコム分光法が広波長域・高精度・高分解能な測定を可能にするため、デュアルコム分光法が新しい分光法として期待されている背景から、特に有用です。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 化学物理学分光学

高精度な物性情報の取得

この技術は、固体試料の物性情報を高精度に取得するために使用できます。位相スペクトルをリアルタイムで取得し、フーリエ解析を行うことで物性情報が得られます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2018-247417
発明の名称: デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法
出願人／権利者: 国立大学法人電気通信大学
住所: 東京都調布市調布ケ丘１丁目５−１
公開番号: 特開2020-106477
登録番号: 特許第7128516号

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