革新的な歪み検出装置: 試料の内部まで見抜く

国立大学法人　新潟大学

新潟県新潟市西区五十嵐二の町８０５０番地

この技術でできること

静磁場を利用して試料の歪みを検出する装置、方法、及びプログラム

相談したいこと

技術の特徴

この特許は、静磁場を試料の周囲に生成し、電波を送信して信号を受信することで試料の歪みを検出する装置、方法、及びプログラムに関するものです。この装置は、周波数解析を行い、複数のピークが検出された場合に試料に歪みがあると判別します。一方、単数のピークが検出された場合には試料に歪みがないと判別します。さらに、メインピークの積分強度とサテライトピークの積分強度に基づき、試料の全域に占める歪みが存在しない割合または歪みが存在する割合を検出することも可能です。これにより、試料の広範囲の歪みを高精度に検出することが可能となります。

AIによる特許活用案

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高精度な材料検査の実現

この装置は、製造業における材料の品質検査に活用することが可能です。試料の微細な歪みを検出することで、材料の品質管理をより高精度に行うことができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2018-053128
発明の名称: 歪み検出装置、歪み検出方法及び歪み検出プログラム
出願人／権利者: 国立大学法人　新潟大学
住所: 新潟県新潟市西区五十嵐二の町８０５０番地
公開番号: 特開2019-164091
登録番号: 特許第7025010号

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