非破壊検査の新時代！電磁波を活用した高感度検出装置

国立大学法人福井大学

福井県福井市文京３－９－１

この技術でできること

本装置は、プローブ光の偏光成分を変調し、EOサンプリング法で検出する新しい電磁波検出装置です。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、電磁波を活用した非破壊検査装置に注目し、その活用法を開発しました。X線検査に代わる新たな電磁波検出技術として、EOサンプリング法を用いています。プローブ光に含まれる直交二方向の偏光成分のうち、長軸方向の偏光成分を角度だけ傾ける第一の光学フィルタを電気光学結晶の前に配置し、長軸方向の偏光成分をカットする第二の光学フィルタを配置します。これにより、EOサンプリング法による電磁波検出の感度を大幅に高めることが可能になりました。これにより、高速でスキャンしてマッピングすることが可能となり、その用途の範囲が広がります。

AIによる特許活用案

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高精度空港のセキュリティチェック

本装置は、空港における手荷物のセキュリティチェックに活用することができます。X線透視検査に比べて高精度かつ高速にスキャンしてマッピングすることが可能なため、より正確な検査が行えます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2018-037015
発明の名称: 電磁波検出方法及び電磁波検出装置
出願人／権利者: 国立大学法人福井大学
住所: 福井県福井市文京３－９－１
公開番号: 特開2019-152501
登録番号: 特許第7007719号

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