高解像度放射線測定装置：深度方向の放射線源分布を細かく測定

東京都公立大学法人

東京都八王子市南大沢１－１

この技術でできること

この特許は、短時間且つ深度方向に細かい間隔で放射線源の深度分布を測定可能な放射線測定装置に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

従来の放射線測定装置は、光電子増倍管を使用しているため、検出ユニットの外径や深度方向の大きさが大きく、細かい深度分布調査が困難でした。また、検出ユニットが移動と検出を繰り返す必要があるため、解像度の高い測定を行おうとすると、測定作業全体の時間が長くなるという問題がありました。本発明では、これらの問題を解消することを目指しています。具体的には、シンチレータとフォトダイオードを使用して、短時間で深度方向に細かい間隔で放射線源の深度分布を測定することが可能な放射線測定装置を提案しています。これにより、放射線の深度分布を高解像度で短時間に調査することが可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-247979
発明の名称: 放射線測定装置
出願人／権利者: 東京都公立大学法人
住所: 東京都八王子市南大沢１－１
公開番号: 特開2019-113446
登録番号: 特許第6889476号

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