薄膜分析の新たな可能性: 高精度分光解析装置と方法

国立大学法人京都大学

京都府京都市左京区吉田本町

この技術でできること

この特許は、支持体上の薄膜の分子配向を解析するための分光解析装置及び方法に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

この特許では、特定の入射角で光を照射し、吸光度スペクトルを算出する分光解析装置とその方法を提供します。支持体に固有の入射角が吸光度スペクトルの算出に重要であり、これにより薄膜の特性をより正確に評価することが可能になります。また、透過スペクトルの強度比を用いて混合比率を補正する機能も備えています。この技術は、特に機能性有機材料の薄膜の分子配向を解析する際に有益で、その表面近傍の原子の面内構造等を正確に捉えることが可能になります。このような精度の高い解析は、機能性物質の研究や生物工学において重要となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-222322
発明の名称: 分光解析装置及び分光解析方法
出願人／権利者: 国立大学法人京都大学
住所: 京都府京都市左京区吉田本町
公開番号: 特開2019-095220
登録番号: 特許第6861351号

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