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高精度な誘電体材料評価装置

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)

この技術でできること

高精度で迅速な誘電体材料の評価が可能な装置を提供します。

技術の特徴

本発明は、誘電体材料の誘電特性を計測する装置に関するもので、特にスマートフォンなどの移動体通信機器の小型化・高性能化に伴う誘電体材料の高精度な計測が可能です。支持基板上に形成された少なくとも2本の導線路があり、互いに交差する配置となっています。これにより、比誘電率を簡便に計測・評価することが可能となります。一方の導線路に接続される入力側ポートと出力側ポートからの高周波信号を解析することで、信号の大きさを時間領域で解析し、計測対象の誘電体材料に対する計測結果の評価値を算出します。これにより、計測対象物の比誘電率が高い場合でも、その実効比誘電率を高精度に計測することが可能になります。

関連キーワード

誘電体材料評価装置高精度時間領域解析比誘電率計測

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高精度な半導体材料の評価

半導体セラミックスなどの誘電体材料の誘電特性を高精度に計測することができます。これにより、材料の品質管理や新たな材料の開発に役立てることができます。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号
特願2017-195997
発明の名称
誘電体材料評価装置
出願人/権利者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所
茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)
公開番号
特開2019-070549
登録番号
特許第7011806号
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