高感度・高分解能な光電子分光測定装置の新時代

国立大学法人千葉大学

千葉県千葉市稲毛区弥生町１－３３

この技術でできること

本特許は、エネルギー分解能と信号強度を改善した逆光電子分光測定装置とその方法に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、空準位を測定する逆光電子分光法 (IPES) の改良を提案します。従来のIPESは、試料にエネルギーの揃った電子を照射し、空準位のエネルギー、光の強度から状態密度についての情報を取得します。しかし、従来のIPESはエネルギー分解能が低く、信号強度も弱いという問題がありました。また、高強度電子線を照射するため、有機分子や生体関連試料が損傷を受ける可能性もありました。本特許ではこれらの問題を解決するため、低エネルギー逆光電子分光法 (LEIPS) を開発します。これにより、高分解能化を実現し、試料の損傷も防げます。有機半導体分野など、新技術の研究に幅広く応用が期待されています。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 半導体生物学化学

次世代ディスプレイの開発

本技術は、有機EL素子などの次世代ディスプレイ技術の開発に活用できます。高分解能な逆光電子分光法を用いれば、有機半導体の詳細な解析が可能となり、より高品質なディスプレイの製造に寄与するでしょう。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-160682
発明の名称: 逆光電子分光測定装置及び逆光電子分光測定用基板並びに逆光電子分光測定方法
出願人／権利者: 国立大学法人千葉大学
住所: 千葉県千葉市稲毛区弥生町１－３３
公開番号: 特開2019-039728
登録番号: 特許第6889920号

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