高精度で効率的な回折環計測装置

国立大学法人金沢大学

石川県金沢市角間町　金沢大学内

この技術でできること

固体撮像素子を駆使し、ビームに対して回転、直交、平行などの制御が可能な回折環計測装置

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、結晶格子から得られる情報を利用して物性を評価するための高精度な回折環計測装置に関するものです。照射部と、部分的または全部を撮像する固体撮像素子を備え、これらの素子をビームに対して回転、直交、平行などの制御が可能にする支持部を具備しています。その結果、回折環全周を撮像し、その情報から物性を詳細に解析することが可能です。また、小さなサイズの固体撮像素子を1つまたは2つ以上用いて行うことで、装置の小型化やコストダウンを達成しています。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 材料科学半導体産業研究開発

材料開発における物性評価

本発明の回折環計測装置は、新しい材料の開発において物性を高精度に評価するためのツールとして活用することができます。特に、結晶格子の情報から応力や転位密度などの物性を解析することが可能であり、材料開発の効率化と精度向上に寄与します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-159396
発明の名称: 回折環計測装置
出願人／権利者: 国立大学法人金沢大学
住所: 石川県金沢市角間町　金沢大学内
公開番号: 特開2019-039681
登録番号: 特許第7050273号

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