光ファイバ内の光信号状態を精密に測定する革新的な装置

学校法人明治大学

東京都千代田区神田駿河台１－１

この技術でできること

本発明は、光ファイバの内部の任意の位置までの光信号の状態を測定する装置と方法に関する。

相談したいこと

技術の特徴

この装置は、光源から発生させたコヒーレント光を第1と第2のコヒーレント光に分岐し、それぞれに光変調を施して試験光と参照光を生成する。試験光は測定対象に入射され、得られた後方散乱光及び反射光の少なくとも一方と、参照光とのビート信号が検出される。試験光と参照光の周波数の変動は周期的であり、その変動パターンの始点の出現時刻の差は予め定められた条件を満足する。これにより、測定対象の内部の任意の位置までの光信号の状態を精密に測定することが可能となる。

AIによる特許活用案

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光ファイバネットワークの診断ツール

この発明は、光ファイバネットワークの問題箇所を特定するための強力な診断ツールとして活用できます。光信号の状態を精密に測定することで、信号損失や故障の原因となる問題箇所を迅速に特定し、効率的なメンテナンスや修復を実現できます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2017-135745
発明の名称: 測定装置及び測定方法
出願人／権利者: 学校法人明治大学
住所: 東京都千代田区神田駿河台１－１
公開番号: 特開2019-020146
登録番号: 特許第6887901号

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