製造不良の探索をAIがサポート！

国立大学法人鳥取大学

鳥取県鳥取市湖山町南４－１０１

この技術でできること

AIを活用した製造不良原因の探索支援方法の特許技術です。

相談したいこと

技術の特徴

この特許技術は、製造不良の原因を探索するためのAI支援手法を提供します。具体的には、解析対象の不良と同一又は類似する関連不良を示す製造理論情報を特定し、それに基づいて理論データを導出します。その後、取得した実測データと導出した理論データを用いて確率推論モデルを構築し、確率推論を実行します。この方法により、製造現場の不良品原因の探索が効率化され、品質の向上が期待できます。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業自動車産業電子部品製造業

生産ラインの最適化

この特許技術は、製造現場の生産ラインにおける不良品の原因探索を効率化するために活用できます。AIを用いた確率推論により、迅速かつ正確に不良原因を探索し、生産プロセスの最適化に繋げることが可能です。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2017-061991
発明の名称: 製造不良原因の探索支援方法及び情報処理装置
出願人／権利者: 国立大学法人鳥取大学
住所: 鳥取県鳥取市湖山町南４－１０１
公開番号: 特開2018-163622
登録番号: 特許第6877735号

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