精度向上の新次元！誤差補正方法を活用した位相子と偏光子の制御技術

国立大学法人山梨大学

山梨県甲府市武田４－４－３７

この技術でできること

位相子と偏光子の主軸方位や透過軸方位の製造誤差や初期誤差を補正する革新的な技術

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、位相子と偏光子の主軸方位や透過軸方位の製造誤差や初期誤差を補正する新たな手法を提供します。具体的には、特定の数式を活用してこれらの誤差を算出し、補正する工程を含みます。さらに、位相子の主軸方位が0やπ/4の時、偏光子をその透過軸方位が0, π/2, π/4, -π/4にそれぞれ回転させ、それぞれの回転角度での8つの二次元画像を受光することにより、誤差を補正します。この技術により、位相子と偏光子の制御精度が向上し、さらに高度な光学装置の設計と製造が可能となります。

AIによる特許活用案

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高精度光学装置の製造

この技術は、位相子と偏光子の製造誤差や初期誤差を補正することで、高精度な光学装置の製造に活用できます。製造工程での誤差を補正することで、より正確な光学装置の設計と製造が可能となり、製品の品質向上に寄与します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2017-027524
発明の名称: 誤差補正方法及び二次元偏光解析法、並びに誤差補正装置及び二次元偏光解析装置
出願人／権利者: 国立大学法人山梨大学
住所: 山梨県甲府市武田４－４－３７
公開番号: 特開2018-132467
登録番号: 特許第6805469号

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