リアルタイムで解析可能な回折環計測装置

国立大学法人金沢大学

石川県金沢市角間町　金沢大学内

この技術でできること

X線を照射して形成される回折環をリアルタイムで撮像し、解析することを可能にした装置です。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、計測対象物にX線を照射し、その回折環を計測する装置に関するものです。特に、回折環の撮像から解析までをリアルタイムに実行することができる技術を提供します。これは、固体撮像素子を用いて回折環を撮像し、その画像を解析することにより実現されます。固体撮像素子はビームが通過する貫通孔を中央部に有し、極座標に沿って配置された複数の光電変換部を有します。このような構造により、高速で高精度の解析が可能となります。

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高精度な材料解析

本装置を用いて、材料の内部構造や物性を高精度に解析することが可能です。製造業や素材研究などの分野で活用可能です。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2018-054747
発明の名称: 回折環計測装置
出願人／権利者: 国立大学法人金沢大学
住所: 石川県金沢市角間町　金沢大学内
公開番号: 特開2018-116063
登録番号: 特許第6472069号

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