歪みのない観測画像が得られる走査型プローブ顕微鏡

国立大学法人金沢大学

石川県金沢市角間町　金沢大学内

この技術でできること

走査電圧の制御により観測画像の歪みを抑制する走査型プローブ顕微鏡

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、観測画像の歪みを抑制する走査型プローブ顕微鏡に関するものである。具体的には、観測試料を載置する試料ステージと、試料の表面状態または動態を観測する探針、試料ステージを駆動するスキャナ、スキャナの動作を制御する制御部を備える。制御部は、所定の周期で増加および減少を繰り返す走査電圧をスキャナに印加し、走査電圧は、増加開始直後の第1の期間における増加の加速度が正の値であり、かつ、第1の期間に続く増加の傾きが一定である。これにより、観測領域の一端側において走査方向を切り替えるときに、スキャナの応答遅れの影響により観測領域の一端側近傍において観測画像に歪みが生じるのを抑制することができる。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 ナノテクノロジー医療機器素材研究

高精度な観測技術の提供

本特許の技術は、観測画像の歪みを抑制することが可能なため、高精度な観測が求められるナノテクノロジーや医療機器、素材研究などの分野で活用可能です。特に、試料の微細な構造や性質を正確に把握する必要がある場面での利用で、より信頼性の高いデータを提供できます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-234584
発明の名称: 走査型プローブ顕微鏡
出願人／権利者: 国立大学法人金沢大学
住所: 石川県金沢市角間町　金沢大学内
公開番号: 特開2018-091695
登録番号: 特許第6842754号

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