高精度な表面検査を実現する特許技術

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

表面検査装置と方法に関する特許、光の散乱と偏光分離を活用して異常点を特定します。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、表面検査装置とその方法に関するもので、高度な光学技術を用いて被検査体の表面状態を詳細に解析します。撮像部が複数の波長の光の強度に関する複数の検出画像を撮像し、偏光フィルタを用いて光の偏光を分離します。この技術は、偏光成分や輝度画像の分析を通じて、被検査体の輝度異常点や偏光成分異常点を特定し、それらの分布をスコア化することにより、表面の偏光成分ムラや輝度ムラを解析します。このような詳細な解析により、製品の品質管理や異常検出が精度高く行えます。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業半導体産業自動車産業

品質保証の高度化

製品の表面検査を行う際に、本特許技術を活用することで、より精度高く検査を行うことが可能となります。これにより、製品の品質保証を一層向上させ、顧客満足度の向上に寄与します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-234464
発明の名称: 表面検査装置、表面検査方法、表面検査プログラムおよび記録媒体
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: 特開2018-091692
登録番号: 特許第6775787号

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