高性能ポジトロン断層測定画像の新たな構成方法

国立大学法人千葉大学

千葉県千葉市稲毛区弥生町１－３３

この技術でできること

本発明は、ポジトロン断層測定画像の分解能を改善するための新たな方法を提供します。

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、ポジトロン断層測定装置及びその画像の構成方法に関する。従来の装置では発光位置の特定が困難で、その結果、画像がぼやけてしまう場合があった。この問題を解決するために、発光位置特定部が波長変換ファイバー層における発光の傾域が複数ある場合、あるいは、波長変換ファイバーの本数が所定の本数を超えている場合に、その発光位置に関する情報を削除または採用しない新たな方法を提案している。これにより、高分解能のポジトロン断層測定画像を得ることが可能となり、より正確な診断を可能にします。

AIによる特許活用案

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高精度な医療診断装置の開発

本発明を活用して、高精度なポジトロン断層測定装置の開発が可能になります。これにより、より正確な診断を行うことが可能になり、早期発見や早期治療につながります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-233704
発明の名称: ポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法
出願人／権利者: 国立大学法人千葉大学
住所: 千葉県千葉市稲毛区弥生町１－３３
公開番号: 特開2018-091669
登録番号: 特許第6855047号

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