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精密な微粒子分析装置とソフトウェア

国立大学法人東京農工大学

東京都小金井市中町2-24-16

この技術でできること

动的光散乱現象に基づく微粒子情報の解析装置、方法、およびプログラム

技術の特徴

本特許では、複数の運動する微粒子を含む対象物を連続して撮像し、その画像から微粒子の情報を導出します。撮像画像の差分画像における画像強度の波数と、画像強度の波数に対する微粒子の自己相関情報を導出し、これに基づいて微粒子の拡散係数を計算します。さらに、評価関数を用いて波数のフィッティング範囲を探索し、評価関数の値が最小となる候補範囲をフィッティング範囲として選択します。このようにして、微粒子の詳細な情報を導出し、分析することが可能となります。

関連キーワード

微粒子解析光散乱画像解析フィッティング範囲評価関数

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2016-211838
発明の名称
微粒子情報解析装置、微粒子情報解析方法及び微粒子情報解析プログラム
出願人/権利者
国立大学法人東京農工大学
住所
東京都小金井市中町2-24-16
公開番号
特開2018-072141
登録番号
特許第6854000号
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