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高精度CTスキャンのための一体型校正器

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

東京都江東区青海2-4-10

この技術でできること

独自の基準体を使用してCT装置の寸法測定精度を向上させる校正器

技術の特徴

本特許は、CT装置を用いた寸法測定の精度を向上させるための校正器に関するものです。具体的には、測定対象物を支持する支持体と、その上に設けられた寸法が既知の校正用基準体を備えます。この基準体は回転対称の円筒形で、基準体の外周面の一方の端点から内周面の他方の端点までの距離と、基準体の肉厚部の厚さをそれぞれ基準長さとして使用します。基準体の肉厚部は、支持体の外縁に沿って配置され、基準体の空洞部分に測定対象物を設置可能です。また、基準体と支持体の間には、基準体用のスペーサが設けられています。

関連キーワード

CT装置校正器寸法測定基準体高精度

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高精度CTスキャンのための校正器開発

本特許の技術を利用して、医療機器や工業製品の検査に使用するCT装置の精度を向上させる校正器を開発することが可能です。この校正器は、CT装置の寸法測定精度を高め、より正確な検査結果を提供します。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2017-183254
発明の名称
CT装置用校正器
出願人/権利者
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
住所
東京都江東区青海2-4-10
公開番号
特開2018-063243
登録番号
特許第7038399号
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