精度高く誘電率を測定！反射伝送法誘電率測定装置

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

マイクロ波帯やミリ波帯電磁波を用いて、誘電率特性を評価する反射伝送法誘電率測定装置

相談したいこと

技術の特徴

本製品は、マイクロ波帯（1-18GHz）やミリ波帯電磁波を用いて誘電率特性を評価する反射伝送法誘電率測定装置です。特定のレンズアンテナ間に試料を配置し、ゲーティング法を利用して試料の誘電率特性を評価します。試料から放出された電磁波の反射波・透過波を測定し、Sパラメータを取得、このパラメータを基に試料の誘電率特性を評価します。さらに、得られたSパラメータの時間領域波形から、試料の誘電率特性の初期推定値を設定し、これを基に誘電率特性を詳細に評価します。この装置により、精度高く誘電率を測定することが可能となります。

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電子機器製造業において、本製品を用いて製品の誘電率を測定し、品質管理に活用することが可能です。精度の高い測定結果は、製品品質の向上に寄与します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2016-120724
発明の名称: 時間領域解析を用いた誘電率評価法
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: 特開2017-223614
登録番号: 特許第6590257号

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