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革新的な走査型電子顕微鏡用標準試料とその評価方法

学校法人関西学院

兵庫県三田市学園2-1

この技術でできること

高精度な走査型電子顕微鏡の性能評価とSiC基板の品質評価を可能にする新たな傾斜支持台付き標準試料

技術の特徴

本特許は、特定の傾斜支持台付き標準試料とその評価方法に関するもので、その試料はステップテラス構造を有し、試料の回転によってコントラストが変化します。また、その評価方法は、走査型電子顕微鏡によって得られるコントラストの変化を比較し、電子線の方向性能や深さ性能を評価します。さらに、これらの標準試料に対するコントラストとSiC基板に対するコントラストを比較することで、SiC基板の品質評価も可能にします。これらの評価方法は、4H-SiCや6H-SiCなどの標準試料を用いて行います。この技術は、電子顕微鏡の評価やSiC基板の品質管理における新たな可能性を切り開くものです。

関連キーワード

走査型電子顕微鏡傾斜支持台付き標準試料SiC基板品質評価性能評価

AIによる特許活用案

おすすめ業界 半導体製造業材料科学ナノテクノロジー

走査型電子顕微鏡の精度向上

この新たな標準試料と評価方法を用いることで、走査型電子顕微鏡の精度をより高めることが可能になります。具体的には、電子線の方向性能や深さ性能をより正確に評価し、その結果をもとに装置の調整を行うことができます。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2016-089094
発明の名称
傾斜支持台付き標準試料、その製造方法、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法
出願人/権利者
学校法人関西学院
住所
兵庫県三田市学園2-1
公開番号
特開2017-199540
登録番号
特許第6664133号
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