革新的な走査型電子顕微鏡用標準試料とその評価方法
学校法人関西学院
兵庫県三田市学園2-1
この技術でできること
高精度な走査型電子顕微鏡の性能評価とSiC基板の品質評価を可能にする新たな傾斜支持台付き標準試料
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、特定の傾斜支持台付き標準試料とその評価方法に関するもので、その試料はステップテラス構造を有し、試料の回転によってコントラストが変化します。また、その評価方法は、走査型電子顕微鏡によって得られるコントラストの変化を比較し、電子線の方向性能や深さ性能を評価します。さらに、これらの標準試料に対するコントラストとSiC基板に対するコントラストを比較することで、SiC基板の品質評価も可能にします。これらの評価方法は、4H-SiCや6H-SiCなどの標準試料を用いて行います。この技術は、電子顕微鏡の評価やSiC基板の品質管理における新たな可能性を切り開くものです。
関連キーワード
AIによる特許活用案
走査型電子顕微鏡の精度向上
この新たな標準試料と評価方法を用いることで、走査型電子顕微鏡の精度をより高めることが可能になります。具体的には、電子線の方向性能や深さ性能をより正確に評価し、その結果をもとに装置の調整を行うことができます。
続きの活用案は会員限定です
無料登録またはログイン後に、公開範囲に応じて確認できます。
参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。
権利概要
- 出願番号
- 特願2016-089094
- 発明の名称
- 傾斜支持台付き標準試料、その製造方法、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法
- 出願人/権利者
- 学校法人関西学院
- 住所
- 兵庫県三田市学園2-1
- 公開番号
- 特開2017-199540
- 登録番号
- 特許第6664133号