光の輝度分布を精密に測定！革新的な光学特性測定装置

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

東京都江東区青海２－４－１０

この技術でできること

光源からの光の分布特性を高精度に測定できる光学特性測定装置。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、光源からの光の輝度分布を高精度に測定できる光学特性測定装置に関するものです。光源部は、被測定物に平行光を照射し、拡散透過光または拡散反射光を発生させます。この装置は、特定の角度の拡散透過光または拡散反射光が特定の測定穴を通過するように設計されています。光源部は、トップハット下分布の平行光を照射するものであり、情報処理部は、受光部による受光結果を受け取り、被測定物からの光の輝度分布を計測し、その結果を基に光の分布特性の測定を行います。これにより、光の輝度分布に基づいて精度の高い光学特性の測定が可能となります。

AIによる特許活用案

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光学機器製造における精度向上

光学機器の製造において、光学特性を正確に把握することは製品の品質向上に直結します。本特許の技術を活用して、光学特性の精度を向上させ、製品の品質を一層高めることが可能です。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2016-091317
発明の名称: 光学特性測定装置および光学特性測定方法
出願人／権利者: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
住所: 東京都江東区青海２－４－１０
公開番号: 特開2017-198606
登録番号: 特許第6678901号

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