究極の微細粒子観察法を実現する特許技術

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

シリコン基板を用いて微細粒子の分散を維持しながら観察を可能にする方法。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、微細粒子の分散を維持したままシリコン基板上に固定し、顕微鏡観察を可能にする方法について説明しています。従来の微細粒子観察法では、分散媒体を乾燥させると微細粒子同士が凝集してしまうことが問題でした。本発明では、水に分散した微細粒子をシリコン基板に固定し、シリコン基板を冷却することで微細粒子の静電反発を維持したまま急冷凍結するという手法を提案しています。これにより、微細粒子の分散状態を維持したまま観察を行うことが可能となります。また、再現性の高い安定した観察基板の作成も可能となります。

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微細粒子の観察は、ナノテクノロジーや材料科学などの分野で重要です。本発明を利用すれば、微細粒子の分散状態を保ったままの観察が可能となり、より詳細なデータ分析や新素材の開発に役立てることができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-083528
発明の名称: 微細粒子の観察方法
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: 特開2017-194307
登録番号: 特許第6708327号

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