高精度で効率的な分光測定装置

国立大学法人　香川大学

香川県高松市幸町１－１

この技術でできること

表面反射光の偏光を減衰させ、被測定物の内部から放出された光を通過させる分光測定装置

相談したいこと

技術の特徴

本発明の分光測定装置は、被測定物からの光を特定の方向に2つに分ける分割光学系、光路長差を付与する手段、結像光学系、干渉光の強度を検出する干渉光検出部、スペクトルを取得する処理部、共役面結像光学系、振幅型回折格子を備えています。特に、直線偏光板のうち一つが、表面反射光に由来する偏光を減衰させつつ、被測定物の内部から放出された光を通過させることが特徴です。これにより、高精度な分光測定が可能になります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 光学産業科学研究医療機器

高精度な分光測定を必要とする研究所への提供

本発明の分光測定装置は、高精度な分光測定が可能なため、科学研究や医療研究など、精密な測定を必要とする研究所での使用に適しています。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-040357
発明の名称: 分光測定装置
出願人／権利者: 国立大学法人　香川大学
住所: 香川県高松市幸町１－１
公開番号: 特開2017-156245
登録番号: 特許第6744005号

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