視線で選択、測定データ管理の新次元

株式会社ミツトヨ

神奈川県川崎市高津区坂戸１－２０－１

この技術でできること

眼の動きで測定対象箇所を選択し、データの収集や編集を行う測定システムの特許

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、測定データの収集、記録、編集を容易に行うための測定システムに関するもので、視線の位置とモニタ画面の表示内容を対比してユーザが意図する測定対象箇所を特定する機能を有しています。ユーザがアイポイントデバイスを装着し、視界中のコマンドを選択することで、測定対象物を測定し、そのデータを外部に出力します。さらに、ユーザの前方にある実物を撮像する外部カメラと、視界にグラフィカルユーザインターフェース画像を投影するプロジェクター部を備えています。これにより、ユーザは視線の動きだけで測定対象箇所を選択し、測定データの収集や編集をスムーズに行うことが可能になります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業医療機器業界研究開発

製造業での品質管理

製造業では、製品の品質管理において測定作業が欠かせません。この特許の技術を活用すれば、視線の動きだけで測定箇所を選択し、データを収集、記録、編集することができます。これにより、作業効率を大幅に向上させることが可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2016-032874
発明の名称: 測定システム
出願人／権利者: 株式会社ミツトヨ
住所: 神奈川県川崎市高津区坂戸１－２０－１
公開番号: 特開2017-151672
登録番号: 特許第6700849号

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