革新的な変位ひずみ分布測定システム

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

走査モアレ方法とサンプリングモアレ方法を組み合わせた高精度な変位ひずみ分布測定システム

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、表面の微細な変位とひずみを精密に測定するためのシステムを提供します。このシステムは、走査モアレ方法とサンプリングモアレ方法を組み合わせて使用します。走査モアレ方法では、走査型顕微鏡を用いて走査線間隔を整数倍の間隔に調整し、物体の表面を走査して2次元モアレ縮画像を取得します。一方、サンプリングモアレ方法では、撮影装置を用いて物体の表面を撮影し、その輝度情報から変位ひずみ量を計算します。そして、計算した変位ひずみ量を表示します。これらの方法を組み合わせることで、高精度な変位ひずみ分布測定が可能となります。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 研究開発製造業建設業

高精度な材料評価システムの開発

本システムを用いて、材料の微細な変位やひずみを測定することで、材料の特性や品質を高精度に評価することが可能となります。これにより、新材料の開発や既存材料の品質改善に貢献することができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-028169
発明の名称: モアレ法による高速変位・ひずみ分布測定方法及び測定装置
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: 特開2017-146202
登録番号: 特許第6813162号

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