革新的な半導体基板の製造法
古河機械金属株式会社
東京都千代田区大手町2-6-4
この技術でできること
III族窒化物半導体基板の製造方法において、特定のミラー指数を用いて半極性面を形成し、高品質な半導体基板を生産します。
相談したいこと
技術の特徴
本特許は、主面が特定のミラー指数で表され、mの指数がマイナスとなる半極性面を有するIII族窒化物半導体基板の製造方法に関するものです。この方法では、主面に複数の欠陥が存在し、欠陥の一部が線状に並んで欠陥列となっています。また、HVPE法を用いて、前記主面上に半導体を成長させることで、複数の欠陥が存在し、一部が線状に並んで欠陥列となるIII族窒化物半導体層を形成します。これにより、高品質で耐久性のある半導体基板の製造が可能となります。
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AIによる特許活用案
高品質な半導体基板の製造
本特許の製造法を用いれば、高品質な半導体基板の製造が可能となります。特に、欠陥の存在する半導体基板の製造において、欠陥の影響を最小限に抑えることができます。
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参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ライセンス契約・未選択
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
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権利概要
- 出願番号
- 特願2016-022090
- 発明の名称
- III族窒化物半導体基板及びIII族窒化物半導体基板の製造方法
- 出願人/権利者
- 古河機械金属株式会社
- 住所
- 東京都千代田区大手町2-6-4
- 公開番号
- 特開2017-141120
- 登録番号
- 特許第6663237号