デュアルコム分光法を用いた革新的な偏光計測装置

学校法人慶應義塾

東京都港区三田２－１５－４５

この技術でできること

この特許では、高分解能かつ高速なデュアルコム分光法を用いた偏光計測装置と方法が提案されています。

相談したいこと

技術の特徴

本特許（JP 6632059 B2）に記載されている偏光計測装置は、特定の光の偏光状態を計測するための独自の装置と手法を提供します。この装置は、第1と第2の光周波数コム光源を使用し、試料を照射します。試料からの出射光は変調素子により偏光状態が調節され、その後、両光源からの出力光の干渉光が検出されます。この検出された干渉光を用いて、試料を透過した光の偏光状態が計測されます。この計測方法は、高速で高精度の分光計測を可能にするデュアルコム分光法を採用しており、光の偏光状態を高精度に計測することが可能です。

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光学機器の開発

本特許の技術は、光学機器の開発において有用です。新しいタイプの偏光計測装置の設計や、既存の装置の改良にこの技術を適用することで、より高精度な計測が可能となります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2016-017537
発明の名称: デュアルコム分光法を用いた偏光計測装置及び偏光計測方法
出願人／権利者: 学校法人慶應義塾
住所: 東京都港区三田２－１５－４５
公開番号: 特開2017-138129
登録番号: 特許第6632059号

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