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非破壊で欠陥を検出する最先端技術

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)

この技術でできること

被検査体の欠陥を非破壊的に検査するための方法と装置についての特許。

技術の特徴

本特許は、被検査体の欠陥を検査する方法と装置について説明しています。具体的には、被検査体に応力を印加し、その状態で赤外線やレーザー光を照射して欠陥を検出します。加熱や冷却は部分的に行うことも可能で、被検査体がガラスの場合や、搬送中の被検査体を検査する方法も提供します。さらに、この技術は非破壊的であるため、検査後も被検査体を使用することが可能です。このため、製造工程中の品質検査や、製品の劣化検査などに活用できます。

関連キーワード

非破壊検査欠陥検査赤外線レーザー光ガラス

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業半導体ガラス・窯業

品質検査の効率化

製品の品質検査を非破壊的に行うことで、検査後も製品を利用することが可能になります。これにより、検査の効率化とコスト削減が期待できます。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2015-256279
発明の名称
欠陥を検査する方法、および欠陥検査装置
出願人/権利者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所
茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)
公開番号
特開2017-120202
登録番号
特許第6618354号
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