「光の力で深層を見通す、革新的な断層構造観測装置」

国立大学法人　和歌山大学

和歌山県和歌山市栄谷９３０

この技術でできること

光コヒーレンストモグラフィを活用し、光吸収層の深さを精密に観測する装置とその方法。

相談したいこと

技術の特徴

この特許は、断層構造に光を照射し、反射光と参照光の干渉を検出することで、断層構造の深さ方向における反射光の強度分布を観測する装置とその方法に関するものです。観測対象である断層構造は、光源スペクトルの一部の波長の光を吸収する光吸収層を有し、その両界面間の観測光路長を反射光プロファイルとして取得します。一方で、模擬光吸収層の層厚を変えた複数の模擬断層構造について光伝搬シミュレーションを行い、その結果と反射光プロファイルを比較します。これにより、反射光プロファイルに最も合致するシミュレーション結果を得ることができ、その結果から光吸収層の層厚を決定します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2015-206611
発明の名称: 断層構造の観測方法、観測装置、及びコンピュータプログラム
出願人／権利者: 国立大学法人　和歌山大学
住所: 和歌山県和歌山市栄谷９３０
公開番号: 特開2017-078632
登録番号: 特許第6677407号

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