フォトニクスの新たな可能性を広げる、進化した過渡吸収応答検出装置

国立大学法人埼玉大学

埼玉県さいたま市桜区下大久保２５５

この技術でできること

高度な機能を有する過渡吸収応答検出装置で、プローブ光の透過光や反射光から高精度な情報を取得します。

相談したいこと

技術の特徴

この特許では、光コム発生器やコム間隔粗化器などを備えた過渡吸収応答検出装置の詳細な構成と機能が明らかにされています。音響光学変調器を用いて参照光を生成し、スペクトル検出器を通じてプローブ光の透過光または反射光から過渡吸収応答光の位相スペクトルや振幅スペクトルを検出します。さらに、波長変換器や光強度変調器が各出射系に備えられ、詳細な分析が可能になっています。また、スペクトル検出器の後段には、検出されたスペクトルを逆フーリエ変換して光電界ベクトルの時間変動を演算する演算部が含まれています。これにより、試料の過渡吸収応答を高精度に測定することが可能になります。

AIによる特許活用案

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高精度光学分析装置の開発

この過渡吸収応答検出装置を活用して、試料の物理的・化学的性質を高精度に分析する光学分析装置の開発が可能です。これにより、新素材の開発や製品の品質管理などの分野で活用できます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2014-039995
発明の名称: 過渡吸収応答検出装置および過渡吸収応答検出方法
出願人／権利者: 国立大学法人埼玉大学
住所: 埼玉県さいたま市桜区下大久保２５５
公開番号: 特開2017-078569
登録番号: 特許第6298654号

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