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温度測定の新次元!非接触で真温度を正確に測定

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)

この技術でできること

2波長反射率比を利用した非接触温度測定方法とその装置

技術の特徴

本特許では、非接触で物体表面の真温度を測定する方法とその装置を提供します。具体的には、2波長反射率比を利用し、補助放射源の輝度と物体表面の2波長反射光輝度比から真温度を求めます。これにより、放射率に依存せずに真温度を求めることが可能となっています。また、一方向に走行する被測定対象物の走行方向に垂直にスリット状に補助放射源からの光を投光し、走査型2波長放射温度計と計算装置を備えた装置も提供しています。この方法と装置を使用すれば、例えば製造ライン上の製品の温度管理など、非接触での正確な温度測定が求められる様々な場面で活用できます。

関連キーワード

非接触温度測定真温度2波長反射率比補助放射源走査型放射温度計

AIによる特許活用案

おすすめ業界 製造業食品加工業化学業

非接触での製造ライン上の品質管理

本特許の技術を製造ライン上で活用することで、製品の温度管理を非接触で正確に行うことが可能となります。これにより、品質管理の精度を高め、製品の不良率を低減することが期待できます。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号
特願2015-144432
発明の名称
非接触温度測定方法および測定装置
出願人/権利者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所
茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)
公開番号
特開2017-026432
登録番号
特許第6570061号
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