半導体製造装置
高精度回路診断テスト装置及び方法
国立大学法人 大分大学
大分県大分市大字旦野原７００
この技術でできること
診断対象回路のスキャンFF(フリップフロップ)に設定されたテストパターンに基づき、異なるクロック周期で生成された応答シグネチャと期待シグネチャを比較し、精密な回路診断を実現する装置および方法に関するものです。このシステムは、大容量の不揮発性メモリを必要とせずに、回路の故障箇所を高精度に特定できるという特徴を持っています。
掲載されている活用方法
ライセンス契約
相談したいこと
技術の特徴
ＬＳＩの劣化故障について，ＢＩＳＴにより使用環境で最大分解能の故障診断を実現するための，テスト毎の期待署名をオンザフライで提供する回路機構
本発明における回路診断テスト装置は、テスト対象の集積回路内のスキャンチェーンを用いて診断を行います。装置は、テストパターンを設定し、第一周期とそれより長い第二周期でクロック信号を出力するクロック周期設定部と、これらの周期で得られた応答パターンに基づき生成される応答シグネチャと期待シグネチャを比較する診断テスト部を備えています。この比較により、診断対象回路の故障有無および故障箇所を精密に特定することが可能です。メモリの容量に依存することなく、故障診断の精度を向上させる点が画期的です。
関連キーワード
AIによる特許活用案
半導体製造業
製造ラインでの集積回路の品質管理に利用して、故障品の早期発見と排除を効率化。
続きの活用案は会員限定です
無料登録またはログイン後に、公開範囲に応じて確認できます。
参考情報
活用条件
- サブスクリプション・未選択
- 権利譲渡・未選択
- ✓ ライセンス契約
- 商品化・サービス化
- ASK
- 実証実験
- ASK
- サンプル・プロトタイプ
- ASK
掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。
権利概要
- 出願番号
- 特願2019-027786
- 発明の名称
- 回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法
- 出願人／権利者
- 国立大学法人 大分大学
- 住所
- 大分県大分市大字旦野原７００
- 公開番号
- 特開2020-134
- 登録番号
- 特許第7195602
- 特許取得国
- JP