精密なスペクトル分析を実現する分光特性測定装置

国立大学法人　香川大学

香川県高松市幸町１－１

この技術でできること

本特許は、高精度なスペクトル分析を可能にする分光特性測定装置とその調整方法に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、被測定物から発せられる測定光の分光特性を測定するための装置及びその調整方法に関するものです。特に、固定反射面と可動反射面による反射光を集光し、その強度変化を基にインターフェログラムを取得し、スペクトルを得るという手法です。さらにこの装置は、可動反射面の傾き量を調整するための第1治具と第2治具を備えています。これにより、固定反射面と可動反射面の相対的な傾きを調整し、確実に交差させることが可能となります。また、光検出部の検出結果に基づく調整方法も特徴としています。これにより、精度と再現性の高いスペクトル分析が可能となります。

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研究開発への応用

この分光特性測定装置は、新素材や化合物の研究開発において、その物質の光学特性を正確に測定するためのツールとして利用することができます。研究の精度と効率を向上させることが期待されます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2015-015735
発明の名称: 分光特性測定装置及びその調整方法
出願人／権利者: 国立大学法人　香川大学
住所: 香川県高松市幸町１－１
公開番号: 特開2016-142523
登録番号: 特許第6482886号

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