新世代の最高精度分光特性測定装置

国立大学法人　香川大学

香川県高松市幸町１－１

この技術でできること

高精度な分光特性を測定するための装置で、測定光の分割、光路長差の付与、干渉光の生成と検出などの機能を持つ。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、被測定物から発せられた測定光を分割し、連続的な光路長差分布を付与し、干渉光を形成する装置を提供します。この装置は振幅型回折格子を用いて測定光を分割し、光路長差付与手段により連続的な光路長差分布を付与します。結像光学系により干渉光を形成し、結像面に配置された複数の画素を有する干渉光検出部で干渉光の光強度を検出します。インターフェログラムを求め、それをフーリエ変換することでスペクトルを取得します。これにより、高精度な分光特性の測定が可能となります。

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高精度光学機器開発

光学機器の製造業者は、この技術を利用して、より高度な精度を持つ光学機器を開発することが可能となります。これにより、精度の高い計測や分析が可能となり、製品の競争力を向上させることができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2015-015733
発明の名称: 分光特性測定装置
出願人／権利者: 国立大学法人　香川大学
住所: 香川県高松市幸町１－１
公開番号: 特開2016-142522
登録番号: 特許第6385288号

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