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高度な半導体製造技術を用いた次世代デバイスの開発

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)

この技術でできること

特許JP 6425985 B2は、半導体装置の製造方法について述べており、特にウェル形成工程やイオン注入工程にフォーカスしています。

技術の特徴

本特許では、深さ範囲内に形成された半導体装置の製造方法を提供しています。その主要な構成要素は、第1導電型の基板上に形成される高濃度のウェルと、それを囲むリング状の第2導電型のウェルです。これらのウェルは基板よりも高濃度で、ウェル形成工程を経て表層に形成されます。さらに、マスクを通して露光した後に現像し、それに応じた所定位置にレジストを配置します。その後、第1のイオン注入工程を経て第2導電型のディープウェルを形成するか、または基板のよりも深層位置に高濃度の第3ウェルの濃度領域を形成します。以上の工程を経ることで、半導体装置の高度な制御が可能となり、より高い性能の半導体装置が得られます。

関連キーワード

半導体装置ウェル形成工程イオン注入工程高濃度ウェルディープウェル

AIによる特許活用案

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高性能半導体の製造

この特許技術を用いて、現行の半導体製造技術を超えた高性能な半導体装置を製造することができます。これにより、より高速でエネルギー効率の良い電子機器を製造することが可能になります。

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参考情報

活用条件

  • サブスクリプション・未選択
  • 権利譲渡・未選択
  • ライセンス契約・未選択
商品化・サービス化
ASK
実証実験
ASK
サンプル・プロトタイプ
ASK

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権利概要

出願番号
特願2014-245260
発明の名称
半導体装置及びその製造方法
出願人/権利者
国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所
茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第1(産総研内)
公開番号
特開2016-111096
登録番号
特許第6425985号
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