デジタル変換による精密な遅延量測定回路

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

東京都江東区青海２－４－１０

この技術でできること

この特許は、第一信号と第二信号の時間差をデジタル値に変換する遅延量測定回路および遅延量測定方法に関するものです。

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、信号の時間差を精確に測定し、その結果をデジタル値に変換する技術に関するものです。特に、ASICやFPGAなどのLSIを使用した製品で必要とされる遅延量を取得するための回路に関わります。本発明の遅延量測定方法は、第一信号と第二信号の時間差を測定する過程で、環状に接続された複数の遅延素子に第一信号を入力し、その信号が各遅延素子を巡回する度に遅延する度合いをカウントします。さらに、第二信号を遅延素子に入力し、その遅延素子の出力を使用してカウンタの計数を停止させます。この過程を繰り返し、複数の測定結果から最終的な結果を算出します。

AIによる特許活用案

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高精度なデジタル変換装置の開発

この特許を利用して、信号の時間差を高精度に測定し、その結果をデジタル値に変換できる装置を開発することができます。これにより、ASICやFPGAなどのLSIを使用した製品の性能向上に寄与できます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2014-209085
発明の名称: 遅延量測定回路および遅延量測定方法
出願人／権利者: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
住所: 東京都江東区青海２－４－１０
公開番号: 特開2016-082301
登録番号: 特許第6382057号

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