高精度な電子スピン共鳴測定を可能にする技術

国立大学法人金沢大学

石川県金沢市角間町　金沢大学内

この技術でできること

本特許は、半導体装置を用いた電子スピン共鳴測定装置及びその測定方法に関するものである。

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、電子スピン共鳴測定装置、電子スピン共鳴を測定するための半導体装置、及び、電子スピン共鳴の測定方法に関するもので、高精度な測定が可能な装置と方法を提供します。発振回路形成部とインダクタ部とが同一の半導体装置上に形成されており、これらにより形成される発振回路は電圧制御発振器で、素子パラメータは電圧で調整可能です。これにより、測定対象物に対して所定の直流磁場と交流磁場を印加し、電子スピン共鳴スペクトルを測定します。さらに、発振回路の発振周波数を素子パラメータで変化させることで、電子スピン共鳴スペクトルを高精度に取得することが可能となります。

AIによる特許活用案

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精密な物質分析のための装置開発

本特許の技術は物質の詳細な特性を解析するための装置開発に活用できます。特に、分子や磁性体材料に含まれる不対電子の量を高精度に測定することが可能となるため、新しい物質の発見や既存物質の特性解析に役立ちます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2014-167768
発明の名称: 電子スピン共鳴測定装置、半導体装置、及び電子スピン共鳴の測定方法
出願人／権利者: 国立大学法人金沢大学
住所: 石川県金沢市角間町　金沢大学内
公開番号: 特開2016-045016
登録番号: 特許第6362964号

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