より精度の高いX線分析を実現する技術

国立大学法人信州大学

長野県松本市旭３丁目１−１

この技術でできること

X線の強度と磁化状態を操作し、磁性体の特性によってX線の強度を調整する技術

相談したいこと

技術の特徴

本技術は、X線の強度を変調し、その偏光状態を分析するものです。具体的には、異なるX線散乱能を有する原子で構成された磁性体を用い、その磁化状態を操作します。この磁性体は、X線の回折強度のうち、磁化に依存しない部分については複数種の原子からの散乱波の干渉によって強度が弱められ、磁化に依存する部分については強度が維持される特性を持っています。これにより、磁性体によって回折された被変調X線の強度のうち、磁化に依存しない部分を抑制することが可能となります。また、磁性体を回転させることで、被測定X線の電場ベクトルの振動方向を相対的に回転させることも可能です。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 医療業界製造業研究開発

X線画像の精度向上

本技術を用いることで、X線画像の画質や解析精度を向上させることが可能となります。これにより、医療現場での診断精度や製品の非破壊検査の精度が向上する可能性があります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2014-167309
発明の名称: Ｘ線強度変調法及びＸ線偏光状態分析法
出願人／権利者: 国立大学法人信州大学
住所: 長野県松本市旭３丁目１−１
公開番号: 特開2016-045000
登録番号: 特許第6602001号

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