リチウムイオン二次電池電極の革新的な解析手法

国立研究開発法人産業技術総合研究所

茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）

この技術でできること

SiN薄膜を用いたリチウムイオン二次電池電極の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光の実現

相談したいこと

技術の特徴

本発明は、リチウムイオン二次電池電極の電気化学オペランド軟X線吸収/発光分光の実現を可能とする、SiN薄膜を用いた薄膜電極を提供します。従来のリチウムイオン二次電池用正極・負極材料の解析は、放射光硬X線吸収分光などが主流でしたが、充放電に最も重要な情報を詳しく解明することが困難でした。また、放射光軟X線吸収分光や軟X線発光分光を用いると、電極を真空中に置く必要があり、電解液を伴う充放電動作下(オペランド)測定は困難でした。本発明により、リチウムイオン二次電池における正極・負極材料の詳細な解析が可能となり、性能向上や新規材料の開発に寄与できます。

AIによる特許活用案

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高性能二次電池の開発

本発明の手法を活用し、リチウムイオン二次電池の電極材料の電子状態を詳細に解析。これにより、性能向上や新規材料の開発に寄与します。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2014-164810
発明の名称: 軟Ｘ線を用いた二次電池オペランド測定用電極
出願人／権利者: 国立研究開発法人産業技術総合研究所
住所: 茨城県つくば市梅園１－１－１　つくば中央第１（産総研内）
公開番号: 特開2016-040763
登録番号: 特許第6323873号

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