精密なX線三次元測定が可能な革新的装置

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

東京都江東区青海２－４－１０

この技術でできること

高度な精密検査技術を使用したX線三次元測定装置

相談したいこと

技術の特徴

本特許は、高精度なX線三次元測定装置及びその測定方法について説明しています。例えば、三次元プリンタで作成された複雑な部品や製品の精密な検査に適用されます。この装置は、三次元座標軸上で測定対象物のX線画像を取得し、その三次元形状の位置情報を取得します。さらに、X線画像の画素サイズよりも小さいメッシュを設定し、取得した位置情報をメッシュ上に配置します。この情報を基に、画像の補正とエッジの推定が行われます。これにより、高い寸法精度の実現と、複雑な形状や内部構造の精密な測定が可能になります。

AIによる特許活用案

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三次元プリンタ製品の品質保証

三次元プリンタで作成された製品や部品の精密な検査にこのX線三次元測定装置を活用することで、製品の品質保証や性能評価をより高度に行うことができます。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

掲載者による選択状態を表示しています。未選択や ASK は、利用不可を意味するものではありません。

権利概要

出願番号: 特願2013-224627
発明の名称: Ｘ線三次元測定装置及びＸ線三次元測定方法
出願人／権利者: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
住所: 東京都江東区青海２－４－１０
公開番号: 特開2015-087182
登録番号: 特許第6210841号

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