革新的な認識対象物の姿勢パラメータ推定装置

ＫＤＤＩ株式会社

東京都千代田区飯田橋３丁目１０番１０号　ガーデンエアタワー

この技術でできること

複数解像度の画像を用いて、認識対象物の姿勢パラメータを精確に推定します。

相談したいこと

技術の特徴

この特許による技術は、入力画像とその低解像度版を用いて、認識対象物の姿勢パラメータを推定する装置を提供します。装置は、最も解像度の低い画像で認識対象物の特徴点を追跡し、その移動量を求めます。さらに、この移動量を用いて認識対象物の状態を推定し、それに基づいて処理対象レベルの画像を決定します。その後、特徴点の追跡結果と、前フレームからの移動量に基づいて、認識対象物の姿勢パラメータを求めます。これにより、高精度な認識対象物の姿勢パラメータの推定が可能になります。

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参考情報

活用条件

サブスクリプション・未選択
権利譲渡・未選択
ライセンス契約・未選択

商品化・サービス化: ASK
実証実験: ASK
サンプル・プロトタイプ: ASK

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権利概要

出願番号: 特願2013-205136
発明の名称: 姿勢パラメータ推定装置、姿勢パラメータ推定方法、およびプログラム
出願人／権利者: ＫＤＤＩ株式会社
住所: 東京都千代田区飯田橋３丁目１０番１０号　ガーデンエアタワー
公開番号: 特開2015-069548
登録番号: 特許第6109699号

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